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日立分析仪器(上海)有限公司

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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT110A
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品牌: 日立/Hitachi
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2019-03-05 10:03
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详细信息
  • 型号:FT110A
  • 测量对象:镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铑,镀钯,其它镀层
  • 工作原理:
  • 测量范围(Hm):0.06*0.06
  • 低限分辨率:50nm
  • 可测镀层最薄厚度:50nm
 1.即放即测! 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置!

1. 通过自动定位功能提高操作性
测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。
 
2. 微区膜厚测量精度提高
通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
 
3. 多达5层的多镀层测量
使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
 
4. 广域观察系统(选配)
可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。
 
5. 对应大型印刷线路板(选配)
可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
 
6. 低价位
与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。

型号 FT110A
测量元素 原子序号Ti(22)~Bi(83)
X射线源 空冷式小型X射线管
管电压:50(可变更)kV
管电流:10~1000µA
检测器 比例计数管
准直器 ○型: 0.1 mmΦ、0.2 mmΦ 他2種
样品观察 CCD摄像头
对焦 激光对焦(自动)
滤波器 一次滤波器(自动切换)
样品区域 [固定]535×530 mm
[电动] 260×210 mm (移动量X:250 mm, Y:200 mm)
测量软件 薄膜FP法(最大2层、10种元素)、检量线法
安全功能 样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能
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