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X射线荧光分析仪测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量含量范围：ppm～99.99%；
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末；
探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率为1445eV，可选配极速探测器至125eV；
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择；
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下，大气、氦气均可以准直器和滤。
环境限制物质测量软件Ver.2
通过精度管理软件优化测量时间（Ver.1已有功能）；
利用数据库对各网点的测量数据进行集中管理（搜索、游览、分析、编辑、打印、制作报告）；
对于之前曾经测过的同一样品，可比较两次的测量结果；
除了RoHS分析、卤素分析、玩具分析、Sb、Sn分析之外，还可自由添加需要管理的元素。
采用当代的电子技术，仪器全部由微处理器控制。所有控制板上均装有微处理器，分别控制进样器、光谱室真空、温度、探测器、X光管及发生器、水冷、测角仪等，每隔几秒监测仪器的两百多个状态点，发现问题及时报jin.降低电源消耗、增加X光管寿命的绿色模式。即当仪器要停止工作1小时或数小时时，X光管的电源在规定时间内自动减小到一种待机状态，当用户开始工作，所要求的工作条件会自动到达。
